特許
J-GLOBAL ID:200903077499451677
EPMA装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長南 満輝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-320268
公開番号(公開出願番号):特開2007-127511
出願日: 2005年11月04日
公開日(公表日): 2007年05月24日
要約:
【課題】 EPMA装置の検出感度を増大する。【解決手段】 試料台3上の試料2と分光結晶8との間にはX線集光手段としてのフレネルゾーンプレート9が設けられている。そして、フィラメント5から加速されて放出された電子線6が試料台3上の試料2表面に照射されると、試料2表面領域から特性X線11が発生する。この発生した特性X線11は、フレネルゾーンプレート9により集光されて分光結晶8に入射され、分光結晶8で分光され、X線検出器10に入射される。この場合、X線集光手段としてのフレネルゾーンプレート9を用いているので、分光結晶8に入射される特性X線量が増加し、検出感度を増大することができる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
加速された電子線が照射された試料表面領域から発生する特性X線を分光してX線検出器で検出するEPMA装置において、前記試料表面領域から発生する特性X線を集光するためのX線集光手段を有することを特徴とするEPMA装置。
IPC (2件):
FI (3件):
G01N23/225
, G21K1/06 F
, G21K1/06 B
Fターム (7件):
2G001AA03
, 2G001BA05
, 2G001CA01
, 2G001EA01
, 2G001EA05
, 2G001EA20
, 2G001SA02
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (4件)
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蛍光X線分光装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-163056
出願人:日本電信電話株式会社
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元素別X線蛍光顕微鏡および動作の方法
公報種別:公表公報
出願番号:特願2004-509399
出願人:エクスレイディア・インコーポレイテッド
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特開昭61-088200
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X線分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-098272
出願人:日本電子株式会社, 日本電子エンジニアリング株式会社
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