特許

J-GLOBAL ID：200903077520973379

計測装置

発明者： 中川 和男
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 近島 一夫 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-154573
公開番号（公開出願番号）：特開2002-350129
出願日： 2001年05月23日
公開日（公表日）： 2002年12月04日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 各種計測装置の小型化のために複数の光電変換素子の各々に光線を導くための複数のレンズを一体化する際に、計測精度が悪くならないようにした計測装置を提供する。【解決手段】 装置全体を保持する筐体1に半導体チップ2は接着固定されている。筐体1に不必要な光線が光電変換素子からなる測光センサ3及び測巨センサ4に届かないようにするために壁部1bが設けられる。測光センサ3に光線を導く測光レンズ部9aの光軸方向肉厚中心位置は測巨センサに光線を導く測巨レンズ部9bの光軸方向肉厚中心位置よりも光軸方向のセンサ側にずれた位置に配置された状態で一体化9されている。また筐体1に保持、固定するためのツバ部9cが設けられおり、筐体1の保持部1aに接着固定され、測光レンズ部9aと測巨レンズ部9bが光軸方向にずらして配置されたことによりできた各レンズ部外径面の表面には反射防止塗装9dが施されている。

請求項（抜粋）：

少なくとも第1、第2の2つの光電変換素子と、前記第1、第2の光電変換素子の各々に光線を導くための第1、第2の光学機能部材が一体化されて隣り合っている複合光学部品と、前記第1、第2の光電変換素子と前記複合光学部品を保持する保持部材と、を有する計測装置において、前記複合光学部品は前記第1の光学機能部材から入射し前記第2の光学機能部材から射出する光線が前記第2の光電変換素子に入射することを規制するように、もしくは前記第2の光学機能部材から入射し前記第1の光学機能部材から射出する光線が前記第1の光電変換素子に入射することを規制するように、または前記いずれの場合をも規制するように前記第1、第2の光学機能部材が結合されていることを特徴とする計測装置。

IPC (6件)：

G01C 3/06 ,  G01J 1/02 ,  G01J 1/06 ,  G02B 7/02 ,  G02B 7/28 ,  G02B 7/30

FI (8件)：

G01C 3/06 A ,  G01C 3/06 V ,  G01J 1/02 B ,  G01J 1/06 A ,  G02B 7/02 B ,  G02B 7/02 D ,  G02B 7/11 A ,  G02B 7/11 Z

Fターム (20件)：

2F112AA08 ,  2F112BA10 ,  2F112CA12 ,  2F112DA05 ,  2F112DA32 ,  2G065AA17 ,  2G065BA03 ,  2G065BA09 ,  2G065BA37 ,  2G065BB06 ,  2G065CA01 ,  2G065DA20 ,  2H044AB11 ,  2H044AB22 ,  2H044AB26 ,  2H044AB28 ,  2H044AD01 ,  2H051BB01 ,  2H051CB08 ,  2H051CB28