特許
J-GLOBAL ID：200903077579730143
測長装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中野 雅房
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-076113
公開番号（公開出願番号）：特開平5-240618
出願日： 1992年02月26日
公開日（公表日）： 1993年09月17日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 1つの光スキャナによって1軸ないし2軸方向における被測定物の寸法を測定することができる光学式の測長装置を提供する。【構成】 計測用空間4を隔てて光出射部1と受光部2を設ける。光出射部1内には、発光素子と光スキャナと光学素子6を設ける。光スキャナは、弾性変形部と、振動入力部と、光ビーム反射用のスキャン部とを有し、振動子から振動入力部に振動を印加すると、スキャン部が2方向に回動する。発光素子から出た光は光スキャナによって反射されると同時に上下方向及び左右方向にスキャンされ、さらに、光学素子6によって平行な光線に変換され、計測用空間4へ出射され、さらに受光部2内の受光素子9に受光される。この時、計測用空間4内に被測定物3があれば、被測定物3の影が受光素子9にできるので、この受光素子9の影の寸法を測定することにより被測定物3の上下方向及び左右方向の寸法を計測することができる。
請求項（抜粋）：
被測定物の方向に向けて出射させた光を走査し、被測定物によって遮られることなく通過した光を受光素子で検出することにより被測定物の径や幅、高さ等の寸法を測定する測長装置であって、少なくとも1つの弾性変形モードを有する弾性変形部と、弾性変形部の一端に設けられた振動入力部と、弾性変形部の他端に設けられた光ビーム反射用のスキャン部とを有し、振動入力部に印加された振動を弾性変形部で所定の弾性変形モードに変換してスキャン部を少なくとも1方向に回動させるようにした光スキャナと、前記光スキャナの振動入力部に振動を付与する振動子と、前記光スキャナに向けて光を出射する発光素子と、前記光スキャナの走査線上に配置された受光素子とから構成されていることを特徴とする測長装置。
IPC (2件)：
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