特許

J-GLOBAL ID：200903077590197511

ふっ素イオンの測定方法

発明者： 竹田 弥一郎
出願人/特許権者： 三菱電機エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 田澤 博昭 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-167297
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356630
出願日： 1999年06月14日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
要約：

【要約】【課題】 ウォータディップDの発生を防止してベースラインの安定化を図り、ふっ素イオンを正確かつ容易に測定するためのふっ素イオンの測定方法を提供する。【解決手段】 ふっ素イオンを含有する試料液12に炭酸塩含有水溶液14を混合し、この炭酸塩含有水溶液14をイオンクロマトグラフ9の試料注入口9aから注入することにより導電率の低い炭酸を導電率の高い炭酸塩に変換する。炭酸塩としては、炭酸ナトリウムの他に、炭酸カリウム、炭酸カルシウム等が用いられる。

請求項（抜粋）：

イオンクロマトグラフを用いるふっ素イオンの測定方法において、ふっ素イオンを含有する試料液に炭酸塩を含有させて炭酸塩含有試料液を調製した後に、イオンクロマトグラフに前記炭酸塩含有試料液を注入することを特徴とするふっ素イオンの測定方法。

IPC (4件)：

G01N 30/88 ,  G01N 30/02 ,  G01N 30/06 ,  G01N 30/64

FI (4件)：

G01N 30/88 H ,  G01N 30/02 E ,  G01N 30/06 E ,  G01N 30/64 A