特許
J-GLOBAL ID：200903077592009860
二次元応力場計測システム及び二次元応力場計測プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
橋爪 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-032171
公開番号（公開出願番号）：特開2003-232688
出願日： 2002年02月08日
公開日（公表日）： 2003年08月22日
要約：
【要約】【課題】 材料試験体の一様でない変形や応力の状態を計測し、破壊直前又は破壊時の材料試験体の特性をより正しく計測する。【解決手段】 二次元応力場計測システムは、例えば、載荷系と、撮影系と、解析系とを備える。まず、撮影系は、載荷系により荷重を受けた試験体の表面の変位分布を測定し取得する(S101)。解析系の演算部は、この変位分布から試験体の表面のひずみ分布を計算して、ひずみ分布ファイルに記憶し、トラクション分布をトラクション分布ファイルに記憶する(S102)。演算部は、ひずみ分布ファイルと、試験体の縁のトラクション分布ファイルとを、メモリからそれぞれ読み出す(S1031、S1032)。つぎに、演算部は、読み出されたデータを基に、応力成分に関する境界値問題を設定する(S1033)。演算部は、設定された境界値問題を、いわゆる有限要素法と同様、弱形式を用いた定式化と数値解法の適用によって解き、応力分布の計算を行い(S1034)、この計算結果を応力分布ファイルに書き込む(S1035)。
請求項（抜粋）：
複数の標点を含む試験体に荷重を加え、試験体の縁又は境界の各位置において加えられる力を示すトラクションを測定する載荷系と、前記載荷系により加えられた荷重による前記試験体の各標点の変位を計測する撮影系と、前記撮影系により計測された標点の各位置に対応する少なくとも2成分のひずみ分布と、前記載荷系により計測された前記試験体の縁又は境界の各位置に対応する圧力を示す少なくとも2成分のトラクション分布とに基づき、前記試験体に関する所定の境界値問題を解くことにより、標点の各位置に対応する3成分の応力分布を計算する解析系とを備えた二次元応力場計測システム。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01L 1/00 M
, G01L 1/00 G
, G01N 3/08
2G061AA02
, 2G061AB01
, 2G061BA20
, 2G061EA02
, 2G061EA04
, 2G061EA05
, 2G061EB03
, 2G061EB07
, 2G061EC02
