特許
J-GLOBAL ID:200903077593205728
パターン認識装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-249082
公開番号(公開出願番号):特開平9-091430
出願日: 1995年09月27日
公開日(公表日): 1997年04月04日
要約:
【要約】【目的】認識・分類が困難で、人間が認識対象から外すような対象を検出し除去して、認識・分類を行なうパターン認識装置を提供する。【構成】認識対象の特徴量を求め(S6)、特徴量のうちの大きさに注目し、非常に小さな対象は処理から除外し(S7)、さらに、ニューラルネットワークの各出力素子の出力値を参照して認識の信頼性を表すパラメータを求め、信頼性評価を行なうための閾値と比較して認識の信頼性を評価し、信頼性が低い時には認識・分類から除去する(S8、S9)。【効果】自動認識を行なっても信頼性が低い対象を検出し、処理過程から除去し処理効率を向上する。
請求項(抜粋):
認識対象の特徴量を入力情報として入力する入力層と、前記入力情報を処理する中間層と、処理結果を出力する出力層からなるネットワーク構造を有するパターン認識処理手段を有し、該パターン認識処理手段により、前記出力層を構成する前記入力情報に対応する各出力素子の出力値を比較し、該出力値が最大である前記出力素子に対応する分類項目を、前記入力情報に対する認識結果として、該認識結果を記憶手段に記憶するパターン認識装置において、前記各出力素子の出力値より前記認識結果の信頼性を評価する信頼性評価手段を設け、該信頼性評価手段により信頼性が高いと判断された前記認識結果を前記憶手段に記憶することを特徴とするパターン認識装置。
IPC (4件):
G06T 7/00
, G01N 15/02
, G01N 15/14
, G06F 15/18 560
FI (5件):
G06F 15/70 465 A
, G01N 15/02 B
, G01N 15/14 B
, G01N 15/14 C
, G06F 15/18 560 C
引用特許:
審査官引用 (2件)
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画像判別装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-261125
出願人:オムロン株式会社
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粒子分析装置及び粒子分析方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-300802
出願人:株式会社日立製作所
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