特許
J-GLOBAL ID：200903077608542980
イオン選択性電極およびイオン濃度の測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-136903
公開番号（公開出願番号）：特開平8-327584
出願日： 1995年06月02日
公開日（公表日）： 1996年12月13日
要約：
【要約】【構成】 金、銀または銅金属よりなる金属電極層、該金属電極層と結合可能な基を介して結合されたフェロセン基よりなる単分子膜層から構成された酸化還元層、ナトリウムイオン、カリウムイオン、クロルイオン等に選択的に応答するイオン感応膜層の各層が順に積層されてなるイオン選択性電極とそれを用いた試料溶液中のイオン濃度の測定方法に関する。【効果】 本発明のイオン選択性電極は酸化還元層を有するため長期に渡って安定な電位を示すとともに、該酸化還元層が自己形成型の単分子膜から成っているため、容易に製造可能である。本発明のイオン選択性電極を用いることにより正確かつ簡便にイオン濃度の測定が可能となる。
請求項（抜粋）：
(A)金、銀、または銅金属よりなる金属電極層、(B)酸化還元層および(C)イオン感応膜層が順に積層されてなり、(B)酸化還元層は、化学結合可能な結合基を介して(A)金属電極層と結合したフェロセン基の単分子膜層から構成されていることを特徴とするイオン選択性電極。
FI (2件)：
G01N 27/30 331 F
, G01N 27/30 331 C
