特許

J-GLOBAL ID：200903077625844256

検証システム

発明者： 鈴木 裕一郎
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 西山 恵三 ,  内尾 裕一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-404665
公開番号（公開出願番号）：特開2005-165747
出願日： 2003年12月03日
公開日（公表日）： 2005年06月23日
要約：

【課題】 テスト検証者の負荷の低減や、テスト検証時間の短縮を実現する。【解決手段】 乱数発生手段、乱数発生手段の発生した乱数の値によってウエイトする時間を変化させる手段、少なくとも2種類のクロックを出力するクロック出力手段、クロック出力手段の出力するクロックで動作する動作モジュールを有する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

乱数発生手段、 該乱数発生手段の発生した乱数の値によって、ウエイトする時間を変化させるウエイト時間処理手段、 リセット信号生成手段、 少なくとも2種類のクロックを出力するクロック出力手段、 該、クロック出力手段の出力するクロックで動作する動作モジュール、 テスト信号出力手段、 を持つことを特徴とする検証システム。

IPC (3件)：

G06F17/50 ,  G01R31/28 ,  G01R31/3183

FI (4件)：

G06F17/50 664A ,  G06F17/50 670G ,  G01R31/28 Q ,  G01R31/28 F

Fターム (6件)：

2G132AC09 ,  2G132AG05 ,  2G132AG08 ,  5B046AA08 ,  5B046BA03 ,  5B046JA04

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 周波数拡散発振器を有する集積回路装置及び該装置の制御方法、該装置を有するインクジェット記録装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-307464   出願人：キヤノン株式会社
• システムオンチップにおける埋込コアの試験方法及び構成
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-304327   出願人：株式会社アドバンテスト