特許
J-GLOBAL ID:200903077628362031
非導電性材料の超音波探傷方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
佐々木 宗治 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-261318
公開番号(公開出願番号):特開2000-088815
出願日: 1998年09月16日
公開日(公表日): 2000年03月31日
要約:
【要約】【課題】 非導電性材料である検査対象物の内部ならびに表面の欠陥を非接触で検査できる超音波探傷方法。【解決手段】 検査対象物としての前記非導電性材料7の表面に導電性皮膜14を形成し、該導電性皮膜14を介して前記非導電性材料7に、電磁超音波探触子を用いて非接触で超音波を送受信(20,21)して探傷を行う。
請求項(抜粋):
非導電性材料の内部ならびに表面の欠陥を超音波により探傷する方法において、検査対象物としての前記非導電性材料の表面に導電性皮膜を形成し、該導電性皮膜を介して前記非導電性材料に超音波を送受信して探傷を行うことを特徴とする非導電性材料の超音波探傷方法。
Fターム (10件):
2G047AA08
, 2G047AA09
, 2G047AA10
, 2G047AD01
, 2G047BC08
, 2G047BC09
, 2G047CA02
, 2G047EA09
, 2G047EA10
, 2G047GA20
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