特許

J-GLOBAL ID：200903077664806272

X線像の着目部分に基づく露出制御

発明者： ファン アステン,アルドゴンダ カタリナ マリア
出願人/特許権者： コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
代理人 (1件)： 伊東 忠彦 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-529328
公開番号（公開出願番号）：特表2000-513869
出願日： 1998年03月12日
公開日（公表日）： 2000年10月17日
要約：

【要約】X線検査装置は、X線像から映像信号を得るX線検出器(1)と、X線像の関連部分に基づいてX線検査装置を調節する露出制御システム(2)とを含む。露出制御システムは、X線像の画素を画素の輝度値に基づいて1個以上のクラスタに分類し、クラスタからX線像の着目部分を選択するよう構成される。

請求項（抜粋）：

X線像を受信するX線検出器(1)と、 上記X線像の着目部分に基づいてX線検査装置を調節する露出制御システム(2)とを含むX線検査装置において、 上記露出制御システム(2)は、 上記X線像の画素を上記画素の輝度値に基づいて1個以上のクラスタに分類し、 上記クラスタから上記X線像の上記着目部分を選択するよう構成されていることを特徴とするX線検査装置。