特許
J-GLOBAL ID：200903077669510053
光ファイバ歪み測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-242352
公開番号（公開出願番号）：特開平10-090120
出願日： 1996年09月12日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：
【要約】【課題】 光ファイバの任意の位置の歪みを測定することができる光ファイバ歪み測定装置を提供すること。【解決手段】 光周波数変換部3は、光源1から出射された連続光を、所定の周波数分だけ階段状に周波数シフトする。音響-光スイッチ4は、光周波数変換部3から出射された連続光をパルス化する。該光パルスが被測定光ファイバ7に入射されると後方散乱光が発生する。光方向性結合器11は、後方散乱光を光リング回路と光方向性結合器13とに分岐して出射する。光-電気変換器14は、光方向性結合器11から出射された後方散乱光と、光方向性結合器2から出射された連続光との合成光信号をヘテロダイン検波で受光し、電気信号に変換する。信号処理部18は、該電気信号を任意のタイミングで読み取り、所要の処理を施して、被測定光ファイバ7の歪み量を求める。
請求項（抜粋）：
基準周波数の連続光を出射する光源と、前記連続光を2つに分岐して出射する第1の光方向性結合手段と、前記第1の光方向性結合手段から出射された片方の連続光の光周波数を、ある周期内で階段状に所定周波数分ずつシフトする光周波数変換手段と、前記光周波数変換手段から出射された光信号をパルス化し、該光パルスを所定周期で出射するパルス化手段と、歪み測定の対象となる被測定光ファイバ、前記パルス化手段から出射された光パルスを前記被測定光ファイバに出射すると共に、該被測定光ファイバ内で発生した後方散乱光信号を受光し、方向を変えずにそのまま出射する光周回手段、前記光周回手段から出射された後方散乱光信号を増幅する光増幅手段、前記光増幅手段により増幅された後方散乱光信号から、該光増幅手段で発生した雑音成分を除去し、信号成分のみを通過させる光雑音除去手段、前記光雑音除去手段から出射された後方散乱光信号を、2つに分岐して出射する第2の光方向性結合手段、前記第2の光方向性結合手段から出射された片方の後方散乱光信号に遅延を与える遅延手段、および、前記遅延手段から出射された後方散乱光信号を前記被測定光ファイバに出射すると共に、前記被測定光ファイバを通過した前記光パルスを遮断する光絶縁手段からなり、前記パルス化手段のパルス出射周期がその回路長により定まる光リング回路と、前記第2の光方向性結合手段から出射された他方の後方散乱光信号と、前記第1の光方向性結合手段から出射された他方の連続光とを合成する第3の光方向性結合手段と、前記第3の光方向性結合手段から出射された光信号、すなわち、前記第1の光方向性結合手段から出射された連続光と、前記第2の光方向性結合手段から出射された後方散乱光信号とをヘテロダイン受光し、電気信号に変換する受光手段と、前記受光手段から出力された電気信号に基づいて、前記被測定光ファイバの歪みを測定する信号処理手段とを具備することを特徴とする光ファイバ歪み測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 11/02 J
, G01M 11/00 R
