半導体レーザ光源装置及び光周波数領域反射測定装置

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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-284291
公開番号（公開出願番号）：特開2002-090259
出願日： 2000年09月19日
公開日（公表日）： 2002年03月27日
要約：

【要約】【課題】発振スペクトル線幅が狭く、光周波数掃引速度が一定で、高速掃引可能な半導体レーザ光源装置を提供する。【解決手段】駆動電流源12からの駆動電流を受けてLD11は縦単一モードのレーザ光を発振する。該レーザ光はレンズ13b、AOM駆動部32で駆動されたAOM31、ミラー21を往復してLD11に帰還する間に、AOM31により光周波数シフトを受ける。前記レーザ光がLD11に帰還することによって自己注入同期が起こり、LD11が発振するレーザ光の光周波数が変化する。この繰り返しで、該レーザ光の光周波数の変化はロッキングレンジを外れるまで続き、ロッキングレンジを外れると光周波数はLD11の基本発振周波数に戻り、また掃引が開始される。

請求項（抜粋）：

縦単一モードのレーザ光を発振する半導体レーザ手段(1)及び前記半導体レーザ手段へ駆動信号を出力する半導体レーザ駆動手段(2)を有する半導体レーザ光源部(10)と、前記半導体レーザ手段に対して所定の固定位置に配置され、前記半導体レーザ手段から出力された前記レーザ光の少なくとも一部を前記半導体レーザ手段に帰還する光帰還手段(20)と、前記半導体レーザ手段と前記光帰還手段との光路上に配置されていて、前記半導体レーザ手段へ帰還されるレーザ光の光周波数に周波数シフトを与える光周波数シフト部(30)とを備えたを半導体レーザ光源装置。

IPC (3件)：

G01M 11/00 , G02F 1/11 502 , H01S 5/06

FI (3件)：

G01M 11/00 R , G02F 1/11 502 , H01S 5/06

Fターム (17件)：

2G086CC03 , 2H079AA04 , 2H079BA04 , 2H079CA04 , 2H079CA11 , 2H079FA02 , 2H079HA15 , 2H079KA14 , 2H079KA20 , 5F073AA64 , 5F073AA66 , 5F073AA67 , 5F073AB21 , 5F073AB29 , 5F073BA01 , 5F073BA09 , 5F073EA29

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