特許
J-GLOBAL ID：200903077748826287
インサーキットテスタ用オープンテスト装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳沢 大作
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-350056
公開番号（公開出願番号）：特開平5-164803
出願日： 1991年12月10日
公開日（公表日）： 1993年06月29日
要約：
【要約】【目的】 プローブの接触不良時に起こる判定の不正確さを少なくする。【構成】 判定基準を良品基板28を用いて作成する手段42を備え、指定箇所の測定抵抗値が入力値を超える場合に、入力値を1次判定基準値と決定し、同一箇所の最高レンジによる測定抵抗値が最高レンジ値を超える場合に、2次判定基準をオーバレンジと設定し、最高レンジ値以下の場合に、2次判定基準を1次判定基準値を超えたレンジ範囲と設定する。更に、被検査基板28に対するオープンテスト手段48を備え、被検査基板28における同一箇所の測定抵抗値が1次判定基準値を超えるか判定する。このため、指定箇所がショート状態か判定できる。1次判定基準値を超える場合には再度同一箇所を最高レンジで測定する。そして、測定抵抗値が最高レンジ値を超える場合には2次判定基準がオーバレンジか判定し、最高レンジ値以下の場合には2次判定基準が1次判定基準値を超えたレンジ範囲か判定する。このため、プローブが接触不良か判定できる。
請求項（抜粋）：
操作部を有し、実装基板にプローブを接触して、予め設定した指定箇所の抵抗値を測定する抵抗測定器を備えたインサーキットテスタ用オープンテスト装置において、上記オープンテスト用の判定基準を良品基板を用いて作成する判定基準作成手段として、仮の判定基準値を入力しながら、良品基板における指定箇所の抵抗値を入力値に対応するレンジで測定し、その測定値が入力値を超える場合に、その入力値を1次判定基準値と決定する1次判定基準決定手段と、同一指定箇所の抵抗値を最高レンジで測定し、その測定値が最高レンジ値に相当する2次判定基準値を超える場合に、2次判定基準をオーバレンジと設定し、2次判定基準値以下の場合に、2次判定基準を1次判定基準値を超えたレンジ範囲と設定する2次判定基準設定手段とを備え、被検査基板に対するオープンテスト手段として、被検査基板における同一指定箇所の抵抗値を1次判定基準値に対応するレンジで測定し、その測定値が1次判定基準値を超えるか判定する1次判定手段と、その測定値が1次判定基準値を超える場合に、最高レンジで同一指定箇所の抵抗値を再度測定し、その測定値が2次判定基準値を超える場合には2次判定基準がオーバレンジか判定し、測定値が2次判定基準値以下の場合には2次判定基準が1次判定基準値を超えたレンジ範囲か判定する2次判定手段とを備えることを特徴とするインサーキットテスタ用オープンテスト装置。
IPC (2件)：
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