特許
J-GLOBAL ID:200903077772304500

連続ガス分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西岡 義明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-290786
公開番号(公開出願番号):特開平10-132710
出願日: 1996年10月31日
公開日(公表日): 1998年05月22日
要約:
【要約】【課題】 複数のガス成分を測定する場合であっても、迅速に各検出器の校正が行われるような連続ガス分析装置を提供する。【解決手段】 各検出器の校正を行うために三方切換弁2をゼロガス側の流路に切り換えて、二方弁3を開放し、ゼロガスを導入する。ゼロガスは各流路A、B、Cを流れて各測定セルA、B、Cに供給され、各検出器のゼロ校正を行う。次に、二方弁3を閉じた後、二方弁A、B、Cをいずれも同時に開放してスパンガスA、B、Cを各々流路A、B、Cを介して測定セルA、B、Cに同時に送り込むようする。これらスパンガスは所定濃度のガスであるので、各検出器A、B、Cでは所定の検出値が示されるように校正を行う。このように校正が同時に行えるので、校正時間を短縮することができる。
請求項(抜粋):
試料ガス中の複数の目的成分を連続的に測定するために、各成分に応じた測定セルが複数設けられた連続ガス分析装置において、試料ガス導入流路を前記各測定セルに並列に設けるとともに各測定セルの測定成分に応じたスパン校正ガスを前記各測定セルに並列に設けられた試料ガス導入流路に各々接続したことを特徴とする連続ガス分析装置。

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