特許
J-GLOBAL ID:200903077773917327
複屈折パターン認証装置、及び物品認証システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
飯田 敏三
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-115156
公開番号(公開出願番号):特開2009-265964
出願日: 2008年04月25日
公開日(公表日): 2009年11月12日
要約:
【課題】信頼性の高い真偽判定が可能である物品認証システムの提供。【解決手段】光源、偏光子、試料台、および受光部を含み、該偏光子の試料台側に複屈折性が異なる領域を複数含む層を有する複屈折パターン認証装置、ならびに前記試料台に配置され前記受光部において潜像を可視化する複屈折パターンを有する物品であって支持体上にパターニング光学異方性層を有する物品を含む物品認証システム。【選択図】なし
請求項(抜粋):
偏光子、試料台、該偏光子を介して試料台に光を照射する光源、および、試料台側から反射される光を該偏光子を介して受光する受光部を含み、かつ、該偏光子の試料台側に、パターニング光学異方性層を有する複屈折パターン認証装置を含む物品認証システム。
IPC (3件):
G06K 19/06
, G02B 5/30
, G06K 7/00
FI (3件):
G06K19/00 E
, G02B5/30
, G06K7/00 W
Fターム (25件):
2H149AA28
, 2H149AB01
, 2H149BA02
, 2H149DA01
, 2H149DA02
, 2H149DB15
, 2H149DB16
, 2H149EA02
, 2H149EA19
, 2H149FA33Y
, 2H149FA58Y
, 2H149FA66
, 5B035AA15
, 5B035BB03
, 5B035BB08
, 5B072AA09
, 5B072CC32
, 5B072DD01
, 5B072JJ11
, 5B072LL07
, 5B072LL12
, 5B072LL13
, 5B072LL14
, 5B072LL19
, 5B072LL20
引用特許:
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