特許

J-GLOBAL ID：200903077777388175

視差量測定装置

発明者： 徳橋 有紀 ,  田中 義信
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 杉村 興作 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-061864
公開番号（公開出願番号）：特開2002-271818
出願日： 2001年03月06日
公開日（公表日）： 2002年09月20日
要約：

【要約】【課題】 視差測定に際してのエラーマッチングと正しいマッチングとを明確に切り分けて検出できる視差量測定装置を提供する。【解決手段】 ステレオ画像の第1の画像1上に測定ブロックを設定する測定ブロック設定手段3と、ステレオ画像の第2の画像2上で測定ブロックと対応するブロック領域を探索して類似度の最良値を検出すると共に、その最良値における両画像の座標の違いから視差量を測定するマッチング手段4,10と、測定ブロックと該測定ブロックを所定画素分ずらした周辺ブロックとの間での対応画素同士の画素データの差分絶対値和に基づいて、類似度の最良値を補正する補正データ17を生成する補正データ生成手段13と、補正データ17により類似度の最良値を補正する補正手段14と、補正された類似度の最良値に基づいてマッチング手段でのマッチングがエラーか否かを判定するエラー判定手段15とを有する。

請求項（抜粋）：

第1の画像および第2の画像からなるステレオ画像の上記第1の画像上に所定の測定ブロックを設定する測定ブロック設定手段と、上記第2の画像上で上記測定ブロックと対応するブロック領域を探索して類似度の最良値を検出すると共に、その最良値における両画像の座標の違いから上記測定ブロックの視差量を測定するマッチング手段と、上記測定ブロックと該測定ブロックを所定画素分ずらした周辺ブロックとの間での対応画素同士の画素データの差分絶対値和に基づいて、上記類似度の最良値を補正する補正データを生成する補正データ生成手段と、該補正データ生成手段で生成された上記補正データにより上記類似度の最良値を補正する補正手段と、該補正手段で補正された類似度の最良値に基づいて上記マッチング手段でのマッチングがエラーか否かを判定するエラー判定手段と、を有することを特徴とする視差量測定装置。

IPC (5件)：

H04N 13/02 ,  G06T 1/00 315 ,  G01B 11/24 ,  G01B 11/245 ,  G01C 3/06

FI (5件)：

H04N 13/02 ,  G06T 1/00 315 ,  G01C 3/06 V ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 N

Fターム (47件)：

2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065EE00 ,  2F065FF05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ11 ,  2F065QQ12 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ14 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ32 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ41 ,  2F065QQ42 ,  2F065SS13 ,  2F112AC06 ,  2F112CA08 ,  2F112FA03 ,  2F112FA07 ,  2F112FA21 ,  2F112FA27 ,  2F112FA29 ,  2F112FA38 ,  2F112FA41 ,  5B057AA20 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CC03 ,  5B057CH01 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DC02 ,  5B057DC32 ,  5C061AB12 ,  5C061AB18 ,  5C061AB21