特許

J-GLOBAL ID：200903077791305770

三次元測定機及び三次元形状測定法

発明者： 大塚 弘己
出願人/特許権者： ポリプラスチックス株式会社
代理人 (1件)： 石田 喜樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-083390
公開番号（公開出願番号）：特開平7-294242
出願日： 1994年04月21日
公開日（公表日）： 1995年11月10日
要約：

【要約】【構成】 径の大きさが1:nである2個の接触子により被測定物の任意点の座標を同時に又は別々に測定する測定手段Aと、その座標を接触子毎に記憶する判断記憶手段Bと、得られた接触子毎の座標値(Zφ1、Zφn)より、式 F(ZT)=Zφ1-Zφn/nによって被測定物の任意点の真の座標F(ZT)を決定する演算手段Cとからなる三次元測定機。【効果】 被測定物の傾斜面と接触子との誤差を相殺し、被測定物の任意点の座標を測定できるので、設計上完全球面体でない上検査自体が変形を生じているサンプルを検出することを目的とするランプリフレクターのような射出成形品が被測定物であっても、正確に測定できる。

請求項（抜粋）：

径の大きさが1:nである2個の接触子により被測定物の任意点の座標を同時に又は別々に測定する測定手段と、前記測定手段による座標を接触子毎に記憶する判断記憶手段と、前記判断記憶手段により得られた接触子毎の座標値(Zφ1、Zφn)より、式 F(ZT)=Zφ1-Zφn/nによって被測定物の任意点の真の座標F(ZT)を決定する演算手段とからなることを特徴とする三次元測定機。

IPC (5件)：

G01B 21/20 101 ,  B23Q 17/20 ,  G01B 5/20 101 ,  G01B 21/00 ,  G05B 19/408

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭52-087053
  
• 特開昭52-087053