特許
J-GLOBAL ID：200903077821937769
半導体回路出力補正装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 豊
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-141633
公開番号（公開出願番号）：特開2000-332549
出願日： 1999年05月21日
公開日（公表日）： 2000年11月30日
要約：
【要約】【課題】 拡散などの手法で集積回路化された差動増幅回路において、温度特性、製造上のばらつきなどに影響されずに高精度の出力ゲインを得ることが可能な半導体回路出力補正装置を提供する。【解決手段】 集積回路化された差動増幅回路(12)が、前記差動増幅回路のゲイン抵抗(R1,R2,R3,R4)と同一の集積回路製造工程で製造された基準抵抗(RA,RC)を有し、前記基準抵抗の抵抗値(VA,VB)を検出する(S10)ことにより、前記ゲイン抵抗の抵抗値を推定する(S13)と共に、前記作動増幅器の出力値(Vo)を補正する(S16)。
請求項（抜粋）：
a.集積回路上に配置された差動増幅回路、b.前記差動増幅回路の増幅率を設定する第1のゲイン抵抗、c.前記差動増幅回路の増幅率を設定する第2のゲイン抵抗、d.前記第1および第2のゲイン抵抗と同一の集積回路上に配置され、前記第1のゲイン抵抗と同一の抵抗値を有する第1の基準抵抗、e.前記第1の基準抵抗の抵抗値を検出する第1の基準抵抗値検出手段、f.前記差動増幅回路の出力値を検出する出力値検出手段、g.前記第1の基準抵抗値検出手段により検出された基準抵抗の抵抗値に基づいて前記差動増幅回路の増幅率を推定する増幅率推定手段、および、h.前記推定された増幅率に基づいて前記差動増幅回路の出力を補正する出力補正手段、を備えたことを特徴とする半導体回路出力補正装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H03F 3/45 B
, H03F 1/30 A
5J066AA01
, 5J066AA12
, 5J066CA14
, 5J066CA88
, 5J066CA91
, 5J066CA98
, 5J066FA07
, 5J066HA10
, 5J066HA25
, 5J066HA33
, 5J066KA01
, 5J066KA28
, 5J066KA33
, 5J066KA34
, 5J066MA11
, 5J066TA02
, 5J066TA07
, 5J090AA01
, 5J090AA12
, 5J090CA14
, 5J090CA88
, 5J090CA91
, 5J090CA98
, 5J090CN01
, 5J090FA07
, 5J090FN05
, 5J090HA10
, 5J090HA25
, 5J090HA33
, 5J090KA01
, 5J090KA28
, 5J090KA33
, 5J090KA34
, 5J090MA11
, 5J090TA02
, 5J090TA07
