特許
J-GLOBAL ID：200903077830495914
複数素子チップ部品の測定方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
村井 隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-148723
公開番号（公開出願番号）：特開平9-304464
出願日： 1996年05月20日
公開日（公表日）： 1997年11月28日
要約：
【要約】【課題】 測定工程を単純化し、複数素子チップ部品の高速測定処理を可能とし、併せて測定のための機構の簡素化、測定の信頼性の向上を図る。【解決手段】 複数素子を内蔵した複数素子チップ部品30を間欠回転するロータリーインデックステーブル10に載置し、ロータリーインデックステーブル10が停止する複数のステーションにわたって複数素子チップ部品30の全素子の端子電極に対応して配置された測定端子22により、複数素子チップ部品30が前記ステーションに到着する毎に当該複数素子チップ部品の各素子の測定を順次実行する構成である。
請求項（抜粋）：
複数素子を内蔵した複数素子チップ部品を間欠回転する間欠回転テーブルに載置し、該間欠回転テーブルが停止する1つ又は複数のステーションにわたって複数素子チップ部品の全素子の端子電極に対応して配置された測定端子により、複数素子チップ部品が前記ステーションに到着する毎に当該複数素子チップ部品の各素子の測定を同時に又は順次実行することを特徴とする複数素子チップ部品の測定方法。
IPC (3件)：
G01R 31/00
, H01G 13/00 331
, H01G 13/00 361
G01R 31/00
, H01G 13/00 331 C
, H01G 13/00 361 Z
