特許
J-GLOBAL ID:200903077837526009

全反射減衰を利用したセンサーおよび測定チップアセンブリ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 柳田 征史 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-085970
公開番号(公開出願番号):特開2002-372490
出願日: 2002年03月26日
公開日(公表日): 2002年12月26日
要約:
【要約】【課題】 表面プラズモン共鳴等による全反射減衰を利用したセンサーにおいて、測定ユニットに供給された試料液の蒸発を防止し、測定精度を向上する。【解決手段】 出入機構65により、カップ状の測定ユニット10がターンテーブル20上に配置され、試料液供給機構64により試料液が測定ユニット10に滴下供給される。ターンテーブル20が回動し、所定位置で、オイル供給機構80により、微少量のオイルが滴下供給される。さらにターンテーブル20が回動し、光ビーム30を測定ユニット10の内底面に形成された金属膜と、その下の誘電体ブロックとの界面で全反射条件が得られるように種々の角度で入射させ、界面において全反射した光ビーム30を光検出器40で検出し、該光検出値に基づいて全反射減衰の状態を測定し、試料液の特性を求める。測定ユニット10内の試料液の表面はオイルにより覆われているため、試料液の蒸発が防止され、測定精度が向上する。
請求項(抜粋):
光ビームを発生させる光源と、前記光ビームに対して透明な誘電体ブロック、この誘電体ブロックの上面に形成された薄膜層、この薄膜層上に試料液を保持する1つまたは複数の試料液保持部を備えてなる測定チップと、前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られるように種々の入射角で入射させる光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を検出する光検出手段と、該光検出手段の検出結果に基づいて、全反射減衰の状態を測定する測定手段とを備えた全反射減衰を利用したセンサーにおいて、前記測定チップの試料液保持部が上部に開口部を有するものであり、前記開口部に、試料液の蒸発を防止する蓋手段を設ける蓋手段供給手段を備えたことを特徴とする全反射減衰を利用したセンサー。
IPC (7件):
G01N 21/27 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/03 ,  G01N 21/13 ,  G01N 21/45 ,  G01N 35/04 ,  G01N 35/10
FI (7件):
G01N 21/27 C ,  G01N 21/01 B ,  G01N 21/03 Z ,  G01N 21/13 ,  G01N 21/45 A ,  G01N 35/04 A ,  G01N 35/06 A
Fターム (34件):
2G057AA02 ,  2G057AB04 ,  2G057AB07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057BB01 ,  2G057BB06 ,  2G057BC07 ,  2G057HA04 ,  2G058AA09 ,  2G058CC17 ,  2G058CD04 ,  2G058CF12 ,  2G058EA02 ,  2G058ED03 ,  2G058GA02 ,  2G059AA02 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF11 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059PP04
引用特許:
審査官引用 (14件)
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