特許

J-GLOBAL ID：200903077853877237

試験装置

発明者： 河野 俊幸
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-020321
公開番号（公開出願番号）：特開平10-222206
出願日： 1997年02月03日
公開日（公表日）： 1998年08月21日
要約：

【要約】【課題】 PID制御器を備えた試験装置において、PID制御の制御係数を学習により最適化し得るものを提供する。【解決手段】 同一ロット内の複数のテストピースTPについて順次試験するに際して、PID制御器2の制御係数を記憶部8に記憶された最適値に補正値を加えた値に設定するとともに、変位誤差面積演算部4により演算された変位誤差面積と、変位速度誤差面積演算部5により演算された変位速度誤差面積とを、加算器6により加算して、供試体の変位および変位速度の目標変位および目標変位速度への応答性の評価基準となる合計誤差面積を求め、この合計誤差面積が記憶部8に記憶された最適値よりも小さい場合には、記憶部8内の制御係数および合計誤差面積の最適値を、そのときの制御係数および合計誤差面積で置き換えることにより、試験が進行するにしたがって最適値がより適切な値に変更される。

請求項（抜粋）：

供試体に負荷を与えるアクチュエータと、前記供試体の変位または荷重を検出する検出器と、前記検出器で検出された検出値が目標値に近づくようにPID制御を行なって前記アクチュエータを制御する制御装置とを有する試験装置において、前記制御装置は、予め記憶されている最適値を第1の制御係数として用いた第1の試験と、前記第1の制御係数を変更した第2の制御係数を用いた第2の試験について、前記検出値の目標値への応答性を評価し、前記第2の試験の応答性が前記第1の試験の応答性より良好であると評価した場合には前記最適値を第2の制御係数に変更する一方で、それ以外の場合には前記最適値をそのまま保存することを特徴とする試験装置。

IPC (3件)：

G05B 13/02 ,  G01N 3/08 ,  G05B 23/02

FI (3件)：

G05B 13/02 B ,  G01N 3/08 ,  G05B 23/02 E