特許
J-GLOBAL ID：200903077883420550

ICタグ利用検品システム

発明者：
栗田 明博

栗田 明博 について


出願人/特許権者：
NTN株式会社

NTN株式会社 について


代理人 (2件)： 野田 雅士 ,  杉本 修司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-206093
公開番号（公開出願番号）：特開2006-027773
出願日： 2004年07月13日
公開日（公表日）： 2006年02月02日
要約：
【課題】 入荷検品の作業効率の向上と精度向上を図ることのできるICタグ利用検品システムを提供する。【解決手段】 軸受やその他の機械部品等の規格化された製品wを梱包容器Wに複数入れて運搬する物流系統に適用される。工場2に梱包情報書込手段5を設け、配送センター3に、梱包情報読取手段6と入荷検品手段7とを設ける。梱包情報書込手段5は、出荷する各梱包容器Wに取付けられるICタグ1に梱包情報Iを書き込む手段である。梱包情報Iは、製品wの品名,個数,およびカウント用情報を含む。梱包情報読取手段6は、入荷される各梱包容器WのICタグ1から前記梱包情報Iを読み取る。入荷検品手段7は、この読み取られた梱包情報Iを所定の情報bと比較して検品する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
機械部品を梱包容器に複数入れて運搬する物流系統におけるICタグ利用検品システムであって、上記部品を生産する工場に設置され、出荷する各梱包容器に取付けられるICタグに梱包情報を書き込む梱包情報書込手段と、配送センターに設置され入荷される各梱包容器の前記ICタグから前記梱包情報を読み取る梱包情報読取手段と、この読み取った梱包情報を所定の情報と比較して検品する入荷検品手段とを備えたICタグ利用検品システム。
IPC (3件)：
B65G 61/00 ,  B65G 1/137 ,  G06Q 50/00
FI (3件)：
B65G61/00 526 ,  B65G1/137 A ,  G06F17/60 114
Fターム (13件)：
3F022AA05 ,  3F022AA15 ,  3F022EE09 ,  3F022FF02 ,  3F022LL06 ,  3F022MM05 ,  3F022MM08 ,  3F022MM28 ,  3F022MM35 ,  3F022MM40 ,  3F022MM45 ,  3F022PP04 ,  3F022PP06
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (6件)
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