特許

J-GLOBAL ID：200903077904994780

ICテスタ、及びその期待値信号不良検出方法

発明者： 川合 敦之
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
代理人 (1件)： 荒船 博司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-160395
公開番号（公開出願番号）：特開2001-337140
出願日： 2000年05月30日
公開日（公表日）： 2001年12月07日
要約：

【要約】【課題】 本発明の課題は、ICテスタにおいて、被測定デバイスから得られるデータと期待値信号とを比較した結果が不良と判定された場合に、被測定デバイスから得られるデータが不良であるのか、期待値信号が不良であるのかを特定することである。【解決手段】 ICテスタにおいて、良否判定回路247は、良否判定を行い、良否判定信号を基本制御回路21と不良検出回路248に出力する。不良検出回路248は、この良否判定信号と、被測定デバイスから得られるデータと、期待値信号とを入力信号として期待値信号が不良であるのかを検出する。コントローラは、基本制御回路21を介して入力された良否判定信号に基づいて、不良検出回路248から検出される出力信号を抽出し、この出力信号に従って被測定デバイスから得られるデータが不良であるのか、期待値信号が不良であるのかを特定する。

請求項（抜粋）：

被測定デバイスの機能及び電気的特性を試験するICテスタにおいて、前記ICテストにより前記被測定デバイスから得られる信号と所定の期待値信号とを比較して比較結果を出力する比較手段と、前記比較手段から出力された比較結果の良否を判定し、良否判定信号を出力する良否判定手段と、前記良否判定手段から出力された良否判定信号と、前記被測定デバイスから得られる信号と、前記所定の期待値信号とに基づいて該期待値信号の不良を検出する不良検出手段と、を備えることを特徴とするICテスタ。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/319

FI (2件)：

G01R 31/28 H ,  G01R 31/28 R

Fターム (15件)：

2G032AA01 ,  2G032AB01 ,  2G032AB02 ,  2G032AC03 ,  2G032AD07 ,  2G032AE06 ,  2G032AE08 ,  2G032AE09 ,  2G032AE10 ,  2G032AE11 ,  2G032AE14 ,  2G032AG01 ,  2G032AG07 ,  2G032AH04 ,  2G032AL02