特許
J-GLOBAL ID:200903077915828440

走査表面磁気検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 平木 祐輔
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-154800
公開番号(公開出願番号):特開平8-021870
出願日: 1994年07月06日
公開日(公表日): 1996年01月23日
要約:
【要約】【目的】 試料表面の形態情報と磁気情報とを分離して検出する。【構成】 一端に尖針1を有する板バネ2と、板バネの変位を検出する光てこ5〜7と、XYZスキャナ9と、光てこからの出力信号に基づき前記板バネの変位が一定に保たれるようにXYZスキャナ9のZ軸圧電素子印加電圧を制御するサーボ制御回路8により原子間力顕微鏡を構成する。板バネ2の尖針部分に多層磁気抵抗効果膜3を備え、試料4と尖針1の間にトンネル電圧12を印加して検出器13で多層磁気抵抗効果膜3を流れるトンネル電流を検出するか、又は多層磁気抵抗効果素子3の磁気抵抗を検出することにより、試料4の表面形態情報から独立して試料表面の磁気情報を検出する。
請求項(抜粋):
一端に尖針を有し該尖針部分に多層磁気抵抗効果膜を備える板バネと、前記板バネの変位を検出する板バネ変位検出手段と、前記板バネの尖針と試料の間の距離を制御する試料距離制御手段と、前記板バネ変位検出手段からの出力信号に基づき前記板バネの変位が一定に保たれるように前記試料距離制御手段に制御信号を出力する手段と、前記多層磁気抵抗効果膜の磁気抵抗を検出する磁気抵抗検出手段と、前記尖針と試料表面とを二次元的に相対移動させる二次元走査手段と、前記二次元走査手段による前記尖針と試料表面の相対移動に同期して前記磁気抵抗検出手段からの検出信号を表示する表示手段とを含むことを特徴とする走査表面磁気検出装置。
IPC (6件):
G01R 33/02 ,  G01N 27/72 ,  G01N 37/00 ,  G01R 33/10 ,  G01R 33/12 ,  G11B 5/02

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