特許

J-GLOBAL ID：200903077994152767

微粒子測定器

発明者： 川島 英顕
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社
代理人 (1件)： 田北 嵩晴
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-315190
公開番号（公開出願番号）：特開平5-126718
出願日： 1991年11月05日
公開日（公表日）： 1993年05月21日
要約：

【要約】【目的】 光トラッピング法等を利用し、元素分析機能で分析可能な微粒子測定器を提供すること。【構成】 レーザ光散乱した微粒子を測定する測定部1と、測定した微粒子を捕捉する捕捉部2と、捕捉した微粒子を元素分析する分析部3と、この結果を表示する表示部とからなる。

請求項（抜粋）：

気中に散乱する微粒子を測定する微粒子測定部と、この微粒子測定部で測定した微粒子を捕捉する微粒子捕捉部と、捕捉した微粒子を元素分析する微粒子元素分析部と、分析結果を表示する表示部とよりなることを特徴とする微粒子測定器。