特許
J-GLOBAL ID：200903078012225592

外観検査の基準データ作成装置、外観検査システム、外観検査の基準データ作成方法及び外観検査方法

発明者：
滝澤 稔

滝澤 稔 について

, 
小柳 光紀

小柳 光紀 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (1件)： 外川 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-400124
公開番号（公開出願番号）：特開2005-164277
出願日： 2003年11月28日
公開日（公表日）： 2005年06月23日
要約：
【課題】 本発明は、プリント回路基板の外観検査に使用される基準データをCADデータを用いて正確かつ容易に作成可能な外観検査の基準データ作成装置、外観検査システム、外観検査の基準データ作成方法及び外観検査方法を提供する。【解決手段】 PC10は、CADデータメモリ20からCADデータ(配線パターン情報、ソルダーレジスト情報及びシルク情報)を取り込み、各CADデータを重ね合わせた情報に基づいて、外観検査の際に基準とする箇所を基準データとして決定し、外観検査装置30に入力する。外観検査装置30では、PC10から入力された基準データを用いて、プリント回路基板40に搭載された部品の高さ検査等の基準データを用いる外観検査を実行する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
プリント回路基板の外観検査を実施する外観検査装置にて用いられる基準データを作成する外観検査の基準データ作成装置において、 前記プリント回路基板の表面処理に関するCADデータに基づいて外観検査の基準となる前記プリント回路基板の表面上の位置を決定する決定手段と、 この決定された基準となる位置に関する情報を基準データとして前記外観検査装置へ出力する出力手段と、 を有することを特徴とする外観検査の基準データ作成装置。
IPC (5件)：
G01B11/24 ,  G01N21/956 ,  G06T1/00 ,  G06T3/00 ,  H05K3/00
FI (7件)：
G01B11/24 K ,  G01N21/956 B ,  G06T1/00 305A ,  G06T1/00 305C ,  G06T3/00 300 ,  H05K3/00 D ,  H05K3/00 Q
Fターム (37件)：
2F065AA24 ,  2F065AA49 ,  2F065AA51 ,  2F065BB02 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065RR05 ,  2G051AA65 ,  2G051AB02 ,  2G051AC30 ,  2G051CA04 ,  2G051EB01 ,  2G051ED23 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057BA11 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE08 ,  5B057DA03 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC33
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 特開平4-236316号公報
審査官引用 (3件)

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