特許
J-GLOBAL ID：200903078035039877

プローブの脱着を伴う対象物質の検出方法

発明者：
三好 隼人

三好 隼人 について

, 
千賀 武志

千賀 武志 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人特許事務所サイクス
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-031557
公開番号（公開出願番号）：特開2008-196927
出願日： 2007年02月13日
公開日（公表日）： 2008年08月28日
要約：
【課題】微粒子を用いた検体中の対象物質を検出する方法において、1種類のプローブのみを使用することによって対象物質を簡便に検出することができ、かつ検出限界を向上させた方法を提供すること。【解決手段】微粒子とプローブとの複合体及び検体を接触させる工程、及び検体中の対象物質とプローブとの相互作用によりプローブが微粒子から脱着することにより生ずる微粒子の物性変化を検出する工程を含む、検体中の対象物質の検出方法。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
微粒子とプローブとの複合体及び検体を接触させる工程、及び検体中の対象物質とプローブとの相互作用によりプローブが微粒子から脱着することにより生ずる微粒子の物性変化を検出する工程を含む、検体中の対象物質の検出方法。
IPC (3件)：
G01N 33/543 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/553
FI (3件)：
G01N33/543 581U ,  G01N33/53 M ,  G01N33/553
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (8件)
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引用文献：
審査官引用 (2件)

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