特許
J-GLOBAL ID:200903078060862286

交換可能な測定電極システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三好 秀和 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-547469
公開番号(公開出願番号):特表2002-513933
出願日: 1999年04月23日
公開日(公表日): 2002年05月14日
要約:
【要約】回転可能なシャフト(21)に交換可能に設けられた測定体(22)を有する測定電極システム。この回転シャフトは、スプリング負荷がかけられた接触ピン(25、26)を備えている。この測定体がシャフトに取り付けられると、測定体を貫通して延びる電極(16、18)は接触ピンと電気的接続状態になるであろう。
請求項(抜粋):
測定電極システムにおける回転可能なシャフト(21)であって、 前記シャフトはシャフト端部で終わる内腔(30)内に可動的に設けられた少なくとも一つの接触ピン(25、26)を含む一端部を備えており、前記接触ピンは更に、接触ピンが前記内腔を完全に貫通することを防止する閉鎖手段(37)を備えており、また前記シャフトは、前記接触ピンをシャフトの外方向に押圧する反発手段(38)を含み、前記シャフトは更に、交換可能な測定体(22)を保持する手段(43、44)を含んでいることを特徴とする前記回転可能なシャフト。
IPC (2件):
G01N 27/30 361 ,  G01N 27/416
FI (2件):
G01N 27/30 361 ,  G01N 27/46 301 G

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