特許
J-GLOBAL ID：200903078137166989
ロジックテスタ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 正康
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-071110
公開番号（公開出願番号）：特開平10-268004
出願日： 1997年03月25日
公開日（公表日）： 1998年10月09日
要約：
【要約】【課題】ロジックテスタに元々用意されているフェイルメモリに任意書込み機能を付加し、ADあるいはDA変換器をテストすることのできる安価で高速なロジックテスタを実現する。【解決手段】被試験対象のAD変換器またはDA変換器のテストを行うロジックテスタであって、前記被試験対象のAD変換器またはDA変換器の変換点での値をフェイルメモリに記憶すると共にその記憶値に基づき演算によりAD変換器またはDA変換器の直流特性を求めることができるように構成する。
請求項（抜粋）：
被試験対象のAD変換器またはDA変換器のテストを行うロジックテスタであって、前記被試験対象のAD変換器またはDA変換器の変換点での値をフェイルメモリに記憶すると共にその記憶値に基づき演算によりAD変換器またはDA変換器の直流特性を求めることができるように構成したことを特徴とするロジックテスタ。
IPC (3件)：
G01R 31/316
, G01R 31/00
, H03M 1/10
G01R 31/28 C
, G01R 31/00
, H03M 1/10 C
