特許
J-GLOBAL ID:200903078198528565

外観検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森田 雄一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-151929
公開番号(公開出願番号):特開平10-339700
出願日: 1997年06月10日
公開日(公表日): 1998年12月22日
要約:
【要約】【課題】 従来の外観検査装置は、CCDカメラの各ライン上の検出信号波形に対し、閾値となる判定レベルを設定し、この判定レベルを超えた場合に不良品であると判定していたため、検査対象の感光体ドラムの軸方向に存在する欠陥であるいわゆるスジを検出してしまい、感光体ドラムの良否判断の確度が低かった。【解決手段】 本発明の外観検査装置は、検査物であるドラムの外観を撮像するカメラ3と、その画像データからドラムの欠陥を検出する画像処理部4を備え、前記画像処理部4は、前記画像データからドラムの軸に平行な各ラインについて濃度ヒストグラムを作成し、その分散値と閾値との比較結果に応じて、当該ラインの全データを一定値に置き換えることにより当該ライン上に存在する欠陥を除去する前処理を行うことを特徴とする。
請求項(抜粋):
被検査物であるドラムの外観を撮像するカメラと、その画像データからドラムの欠陥を検出する画像処理部を備える外観検査装置において、前記画像処理部は、前記画像データからドラムの軸に平行な各ラインについて濃度ヒストグラムを作成し、その分散値と閾値との比較結果に応じて、当該ラインの全データを一定値に置き換えることにより当該ライン上に存在する欠陥を除去する前処理を行うことを特徴とする外観検査装置。
IPC (2件):
G01N 21/88 ,  G01B 11/30
FI (3件):
G01N 21/88 A ,  G01N 21/88 J ,  G01B 11/30 A

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