特許
J-GLOBAL ID:200903078204383140

システムテスト仕様生成装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 蔵合 正博
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-192585
公開番号(公開出願番号):特開平8-055041
出願日: 1994年08月16日
公開日(公表日): 1996年02月27日
要約:
【要約】【目的】 システムの仕様記述を利用してシステムテスト仕様書の作成またはその支援を実施し、その実行支援を行ない、システム開発労力を軽減する。【構成】 仕様データを入力する仕様入力手段101と、入力された仕様データを格納する仕様記述格納手段102と、格納された仕様データに基づきテスト項目を決定するテスト項目決定手段103と、テスト項目決定手段103により決定されたテスト項目に対するシステムの反応を仕様記述格納手段102に格納された仕様データから検索する仕様記述検索手段104と、テスト項目と検索結果を出力するテスト結果出力手段105とを備える。
請求項(抜粋):
仕様データを入力する仕様入力手段と、前記仕様入力手段により入力された仕様データを格納する仕様記述格納手段と、前記仕様記述格納手段に格納された仕様データに基づきテスト項目を決定するテスト項目決定手段と、前記テスト項目決定手段により決定されたテスト項目に対するシステムの反応を前記仕様記述格納手段に格納された仕様データから検索する仕様記述検索手段と、前記テスト項目と前記検索結果を出力するテスト結果出力手段とを備えたシステムテスト仕様生成装置。
IPC (3件):
G06F 11/22 310 ,  G06F 9/06 540 ,  G06F 11/28 340
引用特許:
審査官引用 (3件)

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