特許
J-GLOBAL ID：200903078221943460
X線検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴木 知 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-044645
公開番号（公開出願番号）：特開2000-241367
出願日： 1999年02月23日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
要約：
【要約】【課題】 検査対象の欠陥をより確実に検査することができるX線検査装置を提供する。【解決手段】 搬送コンベヤ12の検査位置には、製品10に上方からX線を照射するX線照射部14と、製品10に側方からX線を照射するX線照射部16が設けられている。搬送コンベヤ12の検査位置の下部には、X線照射部14からのX線による製品10の透過像を撮像するX線撮像部18が設けられ、搬送コンベヤ12の検査位置の側方には、X線照射部16からのX線による製品10の透過像を撮像するX線撮像部20が設けられている。画像処理部28は、X線撮像部18、20により撮像された製品10の画像を処理して検査を行う。
請求項（抜粋）：
検査対象に対して第1の方向からX線を照射する第1のX線照射部と、前記第1のX線照射部から照射されたX線により前記検査対象を撮影する第1のX線撮影部と、前記検査対象に対して前記第1の方向とは異なる第2の方向からX線を照射する第2のX線照射部と、前記第2のX線照射部から照射されたX線により前記検査対象を撮影する第2のX線撮影部とを有することを特徴とするX線検査装置。
Fターム (17件)：
2G001AA01
, 2G001AA10
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA06
, 2G001GA06
, 2G001GA08
, 2G001HA13
, 2G001JA01
, 2G001JA09
, 2G001JA13
, 2G001KA03
, 2G001LA01
, 2G001PA01
, 2G001PA06
, 2G001PA11
