特許
J-GLOBAL ID：200903078272998102
三次元曲面測定方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
恩田 博宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-228594
公開番号（公開出願番号）：特開平10-073421
出願日： 1996年08月29日
公開日（公表日）： 1998年03月17日
要約：
【要約】【課題】三次元曲面を高い精度で測定できるようにする。【解決手段】CCDカメラ20はレーザ投光器27から投射されてワークWから反射した光のみを取り込み、CCDカメラ21はレーザ投光器28から投射されてワークWから反射した光のみを取り込む。CCDカメラ20は受光量に応じた値の電気信号を画像処理回路32に出力し、CCDカメラ21は受光量に応じた値の電気信号を画像処理回路33に出力する。画像処理回路32,33はスリット画像の情報を主制御CPU38に転送する。主制御CPU38は転送されたスリット画像を数値演算処理部39に転送する。数値演算処理部39は転送されたスリット画像Gdの情報を前記電気信号の最大値を用いて補正する。
請求項（抜粋）：
スリット光を投射された被測定対象曲面を2次元撮像素子を備えた撮像手段で撮像し、前記被測定対象曲面に対して前記スリット光を平行移動して得られる多数のスリット画像から被測定対象曲面の形状を測定する三次元曲面測定方法において、前記2次元撮像素子における同一画素において前記スリット光を平行移動する毎に撮像された揮度信号とその次に撮像された揮度信号とのレベルを順次比較し、先の揮度信号よりその次の揮度信号のレベルが高いときには前記画素における信号レベルの最大値を更新して記憶し、前記2次元撮像素子における一水平画素列上の信号レベルの最大値と、この最大値に続く少なくとも1つの信号レベルの値とを前記スリット画像毎に記憶し、このスリット画像毎に記憶された信号レベルの最大値及びこの最大値に続く少なくとも1つの信号レベルの値と、同一の画素における前記更新記憶された最大値との間で比例演算し、この比例演算によって得られた最大比率の画素を結ぶ撮像線を被測定対象曲線とする三次元曲面測定方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01B 11/24 M
, G01B 11/24 K
, G06F 15/62 415
