特許
J-GLOBAL ID：200903078288539035
画像形成装置における電位測定値補正方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
白井 博樹 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-071801
公開番号（公開出願番号）：特開平6-282143
出願日： 1993年03月30日
公開日（公表日）： 1994年10月07日
要約：
【要約】【目的】電位の均一性の悪い感光体においても、安定した電位コントロールが可能となり高画質を維持する。【構成】画像を感光体16の任意の位置に形成する画像形成装置において、感光体16の表面電位を検知する電位センサ31と、感光体の位置を検知する感光体位置検知センサ32とを備え、感光体1周分の表面電位を前記電位センサにより検出し、感光体1周分の表面電位の平均値および複数のエリアに分割した各エリア毎の表面電位の平均値を求め、前記感光体1周分の平均値と各エリア毎の平均値との差をオフセット値として記憶し、以後の電位測定は、測定時の感光体のエリアを感光体位置検知センサにより検出し、電位測定値を各エリア毎のオフセット値に応じて補正する。
請求項（抜粋）：
画像を感光体の任意の位置に形成する画像形成装置において、感光体の表面電位を検知する電位センサと、感光体の位置を検知する感光体位置検知センサとを備え、感光体1周分の表面電位を前記電位センサにより検出し、感光体1周分の表面電位の平均値および複数のエリアに分割した各エリア毎の表面電位の平均値を求め、前記感光体1周分の平均値と各エリア毎の平均値との差をオフセット値として記憶し、以後の電位測定は、測定時の感光体のエリアを感光体位置検知センサにより検出し、電位測定値を各エリア毎のオフセット値に応じて補正することを特徴とする電位測定値補正方法。
IPC (4件)：
G03G 15/00 303
, G01R 29/12
, G03G 15/01
, G03G 15/02 102
