特許
J-GLOBAL ID:200903078310407326
超短T2*緩和測定法を用いた細胞測定のためのシステムおよび方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
伊東 忠彦
, 大貫 進介
, 伊東 忠重
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-502288
公開番号(公開出願番号):特表2009-531705
出願日: 2007年03月22日
公開日(公表日): 2009年09月03日
要約:
本開示は、スピン・エコー取得を利用した超短T2*緩和のMR測定のための新しい技法に向けられたものである。超短T2*緩和測定は、細胞移送および療法において、高濃度の鉄で標識付けされた細胞の定量のために使用できる。例示的な実施形態では、小さなフリップ角のRFパルスによって信号が誘導される。励起パルスに続いて、勾配読み出しが適用されてエコーが形成される。RFパルスと勾配読み出しの中央との間の時間はTEとして定義される。高濃度の鉄で標識付けされた細胞をもつ組織では、T2*は1ミリ秒未満となることがある。したがって、信号は数ミリ秒のエコー時間でノイズ・レベルにまで減衰できる。SPIOで標識付けされた細胞ではT2*はずっと長いので、スピン・エコーによって取得される信号は、グラジエント・エコーからの信号よりずっと大きくなる。よって、画像における大規模な信号損失に関連する負の効果が避けられる。次いで、超短T2*緩和マップが通常のT2*上に重ねられて、視野の最終的なT2*マップが生成できる。
請求項(抜粋):
標識付けされた細胞を測定する方法であって:
生体外で造影剤を用いて細胞に標識付けする段階と;
前記標識付けされた細胞の移動、増殖および/またはホーミングを磁気共鳴(MR)撮像を用いてモニタリングする段階と;
一連のスピン・エコー画像を取得することによってT2*減衰曲線をもつT2*緩和測定を測定する段階であって:
(a)第一のスピン・エコー画像を生成する第一のスピン・エコー信号を誘導し;
(b)前記T2*減衰のあたりで好適なエコー・シフトからの一連の追加的な諸スピン・エコー画像を生成する複数のスピン・エコー信号を誘導し;
(c)指数関数あてはめを使って諸T2*マップを導出することを含む段階とを有する、
方法。
IPC (4件):
G01N 24/08
, G01R 33/28
, G01R 33/48
, G01R 33/465
FI (4件):
G01N24/08 510L
, G01N24/02 B
, G01N24/08 510Y
, G01N24/08 510Q
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