特許

J-GLOBAL ID：200903078396367747

ディスクシステム評価装置およびディスクシステム評価方法

発明者： 大内 宏伸 ,  河副 一重
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 山田 英治 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-205745
公開番号（公開出願番号）：特開2001-035110
出願日： 1999年07月21日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
要約：

【要約】【課題】 ヘッドスライダ浮上量を計測する装置において、ディスク形状変化を計測可能としたディスクシステム評価装置を提供する。【解決手段】 ディスクに対向する位置において移動可能な光反射板を設け、スライダのディスクに対する浮上量測定に用いる光源から光を照射し、光反射板とディスクとの距離を検出しディスク形状を求める。反射板の移動により、ディスク半径方向の形状を測定でき、ディスクを回転させデータをサンプリングすることにより周方向形状も検出できる。形状を測定した同一の周位置においてヘッドスライダの浮上量変動を測定することで、ディスク変位に対応したヘッドスライダの追従浮上量変位特性を検出することが可能となる。

請求項（抜粋）：

ディスクを装着し回転駆動するディスク回転駆動手段と、前記ディスクに対向する位置にヘッドスライダを移動するヘッドスライダ駆動手段と、前記ヘッドスライダに光を照射し、照射光に対する前記ヘッドスライダおよび前記ディスクからの反射光を検出することによりディスクとヘッドスライダ間のスペースを測定する光学的スペース測定手段を有するディスクシステム評価装置において、前記ディスクの表面近傍に設置され、前記ディスクを透過した照射光に対する反射光を形成する光反射板を有し、前記光学的スペース測定手段は、前記光反射板に光を照射し、該照射光に対する前記光反射板および前記ディスクからの反射光を検出することにより前記光反射板と前記ディスクの距離を測定してディスクの形状を求める構成を有することを特徴とするディスクシステム評価装置。

IPC (5件)：

G11B 21/21 ,  G11B 5/455 ,  G11B 5/84 ,  G11B 7/26 ,  G11B 11/105 581

FI (5件)：

G11B 21/21 R ,  G11B 5/455 G ,  G11B 5/84 C ,  G11B 7/26 ,  G11B 11/105 581 E

Fターム (12件)：

5D059AA01 ,  5D059AA07 ,  5D059AA08 ,  5D059BA01 ,  5D059CA08 ,  5D059DA35 ,  5D059EA20 ,  5D075AA03 ,  5D075CC29 ,  5D112AA24 ,  5D112JJ04 ,  5D121HH07