特許

J-GLOBAL ID：200903078451971195

論理データの検証方法、該論理検証方法を実行する論理検証システム及び前記論理検証方法を実行するプログラムを記憶した記録媒体

発明者： 大内 秀芳 ,  森本 和伸
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 秋本 正実
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-118532
公開番号（公開出願番号）：特開2000-305977
出願日： 1999年04月26日
公開日（公表日）： 2000年11月02日
要約：

【要約】【課題】 チェック項目情報の作成精度の向上及び論理変更の際に論理データがデグレードしていないことを容易に確認すること。【解決手段】 ハードウェア記述言語にて作成した半導体集積回路の論理データ10とテストパターンデータ11より論理シミュレーションにて波形データ13を作成し、この波形データ13とユーザ指定部15にて与えた情報より、チェック項目情報18を生成する。また、前回生成したチェック項目情報14を入力する手段を設け、前記波形データ13と前記ユーザ指定部15にて与えた情報より生成したチェック項目情報のうち、前回生成したチェック項目情報14に含まれない部分を前回生成したチェック項目情報18に追加し出力するもの。

請求項（抜粋）：

ハードウェア記述言語にて作成した半導体集積回路の論理データをモデルチェッキングにより検証する論理データの検証方法であって、前記論理データと該論理データをテストするための論理シミュレーションのテストパターンとを定義したテストパターンデータよりタイムチャート形式の波形データを作成し、前記波形データを元に入力されたモデルチェッキングの対象となる信号名及びその信号の確定条件並びに前記波形データとよりモデルチェッキングで入力可能な形式のチェック項目情報を生成し、前記論理データが変更されたとき、論理データ変更対象外の部分について前記チェック項目情報を用いモデルチェッキングを実行することを特徴とする論理データの検証方法。

IPC (2件)：

G06F 17/50 ,  H01L 21/82

FI (3件)：

G06F 15/60 670 Z ,  G06F 15/60 664 Z ,  H01L 21/82 C

Fターム (10件)：

5B046AA08 ,  5B046BA09 ,  5B046DA04 ,  5B046JA01 ,  5B046JA05 ,  5F064HH08 ,  5F064HH09 ,  5F064HH10 ,  5F064HH12 ,  5F064HH13