特許
J-GLOBAL ID：200903078457068462
光スイッチ及びその接続損失検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石戸谷 重徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-262805
公開番号（公開出願番号）：特開平11-084276
出願日： 1997年09月10日
公開日（公表日）： 1999年03月26日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、光ファイバをメカニカルに切り替えて接続させる光スイッチであって、適宜接続損失の検査ができるようにしたものを提供せんとするものである。【解決手段】 本発明は、多数の固定側光ファイバに対して少なくとも1本の移動側光ファイバ20を備え、当該移動側光ファイバ20の端面を前記固定側光ファイバの端面に対して相対移動させて光通信路を切り替える光スイッチにおいて、固定側光ファイバをSM型光ファイバ10Aとする一方、その一部をSM型光ファイバよりコア径が大きく開口数の大きい検査用光ファイバ10Bで置き換えた光スイッチにあり、移動側光ファイバ20を、固定側光ファイバのSM型光ファイバ10Aに接続したときと固定側光ファイバの検査用光ファイバ10Bに接続したときとの伝送損失の差から、光スイッチ部分における損失が簡単に特定できるようになる。
請求項（抜粋）：
多数の固定側光ファイバに対して少なくとも1本の移動側光ファイバを備え、当該移動側光ファイバの端面を前記固定側光ファイバの端面に対して相対移動させて光通信路を切り替える光スイッチにおいて、前記固定側光ファイバをSM型光ファイバとする一方、その一部をSM型光ファイバよりコア径が大きく開口数の大きい検査用光ファイバで置き換えたことを特徴とする光スイッチ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G02B 26/08 F
, G01M 11/02 J
