特許
J-GLOBAL ID：200903078466562976
引張試験装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小川 信一 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-292949
公開番号（公開出願番号）：特開平6-138009
出願日： 1992年10月30日
公開日（公表日）： 1994年05月20日
要約：
【要約】【目的】 走査装置に付けたズームレンズを使用することなく、走査装置を試験片の引張り方向に合わせて移動させることにより、微小変形から大変形まで、試験片の伸びを高精度に検出して測定することができる引張試験装置を提供するものである。【構成】 走査装置は、前記試験片Sの引張方向上手側に付された測定マークQaと、引張方向下手側に付された測定マークQbとを走査する、試験片の引張方向に移動可能な複数の走査装置7a,7bから構成され、前記複数の走査装置のうち、少なくとも引張方向下手側に付された測定マークQbを走査する走査装置7bの駆動装置9を、前記試験片Sの両端を把持するチャック1a,1bの引張方向の駆動装置1bに連動させ、前記チャック1bの引張方向の移動に追従して走査装置7bを移動させて、前記試験片の測定マークSを位置基準板20a,20bの基準線qとの関係により伸びを検出するようにしたものである。
請求項（抜粋）：
地色と光学特性が異なる色の測定マークを少なくとも一つ施した試験片の両端をチャックで把持し、一方のチャックをガイド部材及び駆動装置を介して移動させることにより、前記試験片に引張荷重を加えながら前記測定マークの引張方向の変化を少なくとも一つ以上の走査装置で走査し、前記測定マークの地色との光学特性の違いにより出力される電気信号により前記試験片の引張特性を測定するようにした引張試験装置において、前記走査装置は、前記試験片の引張方向上手側に付された測定マークと、引張方向下手側に付された測定マークとを走査する、試験片の引張方向に移動可能な複数の走査装置から構成され、前記複数の走査装置のうち、少なくとも引張方向下手側に付された測定マークを走査する走査装置の駆動装置を、前記試験片の両端を把持するチャックの引張方向の駆動装置に連動させ、前記チャックの引張方向の移動に追従して走査装置を移動させて、前記試験片の測定マークを位置基準板の基準線との関係により伸びを検出するようにしたことを特徴とする引張試験装置。
IPC (3件)：
G01N 3/06
, G01L 1/00
, G01N 3/08
