特許

J-GLOBAL ID：200903078515313375

偏光板の検査装置及び方法

発明者： 神丸 道治
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-122436
公開番号（公開出願番号）：特開平10-311777
出願日： 1997年05月13日
公開日（公表日）： 1998年11月24日
要約：

【要約】【課題】 キャリアテープのような透明部材上の偏光板を、この透明部材の影響を受けることなく検査できるようにする。【解決手段】 透明な部材1上の偏光板PLと、所定の偏光方向の光Lhを偏光板PLに入射する光入射手段2,3とを有し、偏光板PLからの透過光に基づいて偏光板PLの欠陥の検査を行う偏光板の検査装置において、光入射手段2,3から偏光板PLへの光路上に、それぞれ透明電極を設けた2枚の基板の間に液晶層を挟んだパネル4が介在し、これら2枚の基板の透明電極の間にレベルの可変な電圧Vを印加する駆動手段5が設けられている。

請求項（抜粋）：

透明な部材上の偏光板と、所定の偏光方向の光を前記偏光板に入射する光入射手段とを有し、前記偏光板からの透過光に基づいて前記偏光板の欠陥の検査を行う偏光板の検査装置において、前記光入射手段から前記偏光板への光路上に、それぞれ透明電極を設けた2枚の基板の間に液晶層を挟んだパネルが介在し、前記2枚の基板の透明電極の間にレベルの可変な電圧を印加する駆動手段が設けられていることを特徴とする偏光板の検査装置。