特許
J-GLOBAL ID：200903078526239703

認証検査装置

発明者：
桑谷 資一

桑谷 資一 について


出願人/特許権者：
横河電機株式会社

横河電機株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-344698
公開番号（公開出願番号）：特開2003-150551
出願日： 2001年11月09日
公開日（公表日）： 2003年05月23日
要約：
【要約】【課題】 複数のオペレータでプラントの操業を行うことにより、種々のミスをなくしプラント生成物の向上を図ることを目的とする。【解決手段】 複数のユーザについて認証検査を行う認証検査装置であって、1番目のユーザについて認証検査を行い、この認証検査が操作可であるときは、2番目のユーザの認証検査を行い、この認証検査が操作可であるときは、3番目のユーザの認証検査を行うというように、順次にユーザの認証検査を行っていき、全てのユーザの認証検査が操作可であると、操作を承認することを特徴とする認証検査装置である。
請求項（抜粋）：
複数のユーザについて認証検査を行う認証検査装置であって、順次にユーザの認証検査を行っていき、全てのユーザの認証検査が操作可であると、操作を承認することを特徴とする認証検査装置。
IPC (4件)：
G06F 15/00 330 ,  G06F 15/00 ,  G05B 23/02 ,  H04L 9/32
FI (4件)：
G06F 15/00 330 B ,  G06F 15/00 330 F ,  G05B 23/02 V ,  H04L 9/00 673 D
Fターム (11件)：
5B085AE03 ,  5B085AE26 ,  5B085BA06 ,  5B085BE07 ,  5H223AA01 ,  5H223BB01 ,  5H223CC03 ,  5H223EE08 ,  5J104AA07 ,  5J104KA01 ,  5J104KA17
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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