特許
J-GLOBAL ID：200903078541605597
自動測量システム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
磯野 道造
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-012172
公開番号（公開出願番号）：特開2004-226156
出願日： 2003年01月21日
公開日（公表日）： 2004年08月12日
要約：
【課題】標的を簡易かつ小型化することにより設置作業等を簡便化し、消費電力が少なく正確な測量ができる自動追尾測量システムを提供する。【解決手段】電力供給手段である商用電源Dから配線Hを介して電力がシステム制御手段3及び各標的4に供給され、測量機本体2を、複数の測量位置に配置された各標的4の中から視野範囲に入った標的4について標的4の受光面Mを視認してその標的4の3次元位置データを取得するようにシステム制御手段3で制御しながら測量し、これを各標的4について繰り返し自動測量を行うことにより、各標的4が配置された位置の変位を測量する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の標的と、測量機本体と、システム制御手段と、電力供給手段とを有し、前記測量機本体により前記各標的の位置を測量する自動測量システムであって、
前記標的には、
前記標的の受光面を遮蔽するシャッタ部材と、
前記シャッタ部材の遮蔽動作を行わせるシャッタ部材駆動手段と、
前記シャッタ部材駆動手段を駆動させる電力を蓄える蓄電手段と、
前記シャッタ部材駆動手段の動作を制御するシャッタ制御手段と、を有するシャッタ制御手段を備え、
前記各シャッタ制御手段が連続するように一系統で配線されて前記システム制御手段及び電力供給手段に接続されており、
前記配線が、前記蓄電手段への電力供給と、前記シャッタ制御手段への制御信号の送信を兼用して行えるように構成されることを特徴とする自動測量システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01C15/00 101
, G01C15/06 T
