特許

J-GLOBAL ID：200903078576806749

層状複合材料の層検査装置

発明者： 鈴木 雅之 ,  今中 拓一 ,  明石 晴仁
出願人/特許権者： 非破壊検査株式会社
代理人 (1件)： 北村 光司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-368438
公開番号（公開出願番号）：特開平11-190724
出願日： 1997年12月26日
公開日（公表日）： 1999年07月13日
要約：

【要約】【課題】 多少の表面の荒れに拘わらず層状複合材料の層数等をより正確に判定することの可能な層検査装置を提供する。【解決手段】 層状複合材料に超音波を入射させ且つ反射波を受信する超音波探触子と、材料の表面に沿って探触子を少なくとも一方向に移動させる探触子移動手段と、第一ゲートGt内で探触子による受信信号の値がしきい値Sを越えた時間を表面波等受信時間T1,T1’として求めるゲート手段と、探触子の一単位走査における表面波等受信時間の平均値を求めるゲート関数発生部とを設ける。ゲート手段は、探触子の各位置において試験体の層検査を行うための受信信号の範囲を時間的に選択する第二ゲートGfを前記表面波等受信時間の平均値を基準に定める。この表面波等受信時間の平均値の代わりとして、第二ゲートGfを定めるにあたり、表面波等受信時間をローパスフィルタ処理した関数を用いたり、走査範囲を区分すると共に各区分の平均値を隣の区分において利用するようにしてもよい。

請求項（抜粋）：

層状複合材料(101)に超音波を入射させ且つ反射波を受信する超音波探触子(21)と、前記層状複合材料(101)の表面に沿って前記探触子(21)を少なくとも一方向に移動させる探触子移動手段(24)と、第一ゲート(Gt)内で前記探触子(21)による受信信号の値がしきい値(S)を越えた時間を表面波等受信時間(T1,T1’)として求めるゲート手段(44)と、前記探触子(21)の一単位走査における前記表面波等受信時間の平均値(f1(x))を求めるゲート関数発生部(46)とを設け、前記ゲート手段(44)は、前記探触子(21)の各位置において前記層状複合材料(101)の層検査を行うための受信信号の範囲を時間的に選択する第二ゲート(Gf)を前記表面波等受信時間の平均値(f1(x))を基準に定めることを特徴とする層状複合材料の層検査装置。

IPC (2件)：

G01N 29/10 ,  G01N 29/22 503

FI (2件)：

G01N 29/10 ,  G01N 29/22 503