特許
J-GLOBAL ID：200903078578223988
テスト項目重要度評価装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中島 司朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-281767
公開番号（公開出願番号）：特開平6-131214
出願日： 1992年10月20日
公開日（公表日）： 1994年05月13日
要約：
【要約】【目的】 テスト項目の重要度をより正確に評価できるテスト項目重要度評価装置を提供する。【構成】 障害情報管理部1は、発生した障害の障害要因と発生日時とを含む障害情報を管理する。テスト情報管理部2は、障害要因を含むテスト項目情報を管理する。障害発生可能性指数算出部3は、障害が発生する可能性の度合を表す障害発生可能性指数を、障害情報管理部1により管理されている障害要因毎に算出し、その際に、当該障害要因によって生じた障害の発生日時が新しい障害要因ほど障害発生可能性指数が大きくなるように、当該障害要因によって生じた障害の発生頻度を発生日時の新旧で重み付けする。テスト項目重要度算出部4は、テスト情報管理部2からテスト項目情報を取り出し、障害発生可能性指数算出部3に障害発生可能性指数を求めさせ、障害発生可能性指数の大きい障害要因を含むテスト項目ほど重要度を高く設定する。
請求項（抜粋）：
発生した障害の障害要因と発生日時とを含む障害情報を管理する障害情報管理部と、障害要因を含むテスト項目情報を管理するテスト情報管理部と、障害が発生する可能性の度合を表す障害発生可能性指数を、前記障害情報管理部により管理されている障害要因毎に算出し、その際に、当該障害要因によって生じた障害の発生日時が新しい障害要因ほど障害発生可能性指数が大きくなるように、当該障害要因によって生じた障害の発生頻度を発生日時の新旧で重み付けする障害発生可能性指数算出部と、前記テスト情報管理部からテスト項目情報を取り出し、前記障害発生可能性指数算出部に障害発生可能性指数を求めさせ、障害発生可能性指数の大きい障害要因を含むテスト項目ほど重要度を高く設定するテスト項目重要度算出部とを備えたことを特徴とするテスト項目重要度評価装置。
IPC (3件)：
G06F 11/28 340
, G06F 9/06 440
, G06F 11/22 360
