特許

J-GLOBAL ID：200903078604807470

計測顕微鏡

発明者： 升島 努 ,  山西 祐子 ,  石渡 裕 ,  清水 一夫
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-149810
公開番号（公開出願番号）：特開平8-014833
出願日： 1994年06月30日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：

【要約】【目的】本発明は、観察物体の大きさ等を光学系の倍率に関係なく一定の基準で測定できミクロスケールと標本像との合成,分離を容易することを目的とする。【構成】対物レンズ2から入射した被観察物体からの光束を結像光学系へ導くことにより所定の結像面に被観察物体像を形成しミクロスケールを被観察物体像へ重ねた観察像を形成する計測顕微鏡において、複数のコヒーレント光による干渉縞を被観察物体面10上に形成し干渉縞をミクロスケールとして使用することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

対物レンズから入射した被観察物体からの光束を結像光学系へ導くことにより所定の結像面に被観察物体像を形成し、ミクロスケールを前記被観察物体像へ重ねた観察像を形成する計測顕微鏡において、複数のコヒーレント光による干渉縞を前記被観察物体面上に形成し、前記干渉縞を前記ミクロスケールとして使用することを特徴とする計測顕微鏡。

IPC (3件)：

G01B 11/02 ,  G01B 9/04 ,  G02B 21/00

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 計測用内視鏡装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-110106   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• ルーペ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-352725   出願人：大日本印刷株式会社