特許
J-GLOBAL ID：200903078620395484
超音波計測装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-108198
公開番号（公開出願番号）：特開平6-317418
出願日： 1993年05月10日
公開日（公表日）： 1994年11月15日
要約：
【要約】【目的】 表面エコーおよび裏面エコーの変動があっても厚さ伝播時間の測定誤差を小さくする。【構成】 被検査体2の表面性状の影響や探触子保持機構4と被検査材2の表面とのならい機構の影響により表面エコー及び裏面エコーが大きく変動した場合、厚さ伝播時間測定部14で測定された厚さ伝播時間信号36が異常測定値となり、厚さ比較部15により厚さ伝播時間範囲信号37と比較され異常トリガ信号38を発生し、厚さデータ有効信号発生部16により厚さデータ有効信号39を発生し、厚さ伝播時間信号36と厚さデータ有効信号39と平均トリガ信号40とにより厚さデータ平均測定部17において異常測定値である厚さ伝播時間信号を除いた厚さ伝播時間信号を有効とし平均し厚さデータ平均信号41を出力し、厚さ伝播時間の測定誤差を小さくする。
請求項（抜粋）：
水浸方式または水柱方式による超音波計測装置において、送信信号を発生する送信部と、上記送信部から生じる送信信号を超音波信号に変換して被検査材に超音波を入射させるとともに、上記被検査材から反射した超音波エコー信号を電気信号に変換する超音波探触子と、上記超音波探触子で電気信号に変換された超音波エコー信号を入力する受信部と、上記受信部からの出力で被検査材表面からの表面エコー信号に設定するゲートを発生する表面ゲート発生部と、上記受信部からの出力で被検査材裏面からの裏面エコー信号に設定するゲートを発生する裏面ゲート発生部と、上記表面ゲートの開始点から上記表面エコーまでの伝播時間を測定する表面エコー伝播時間測定部と、上記裏面ゲートの開始点から上記裏面エコーまでの伝播時間を測定する裏面エコー伝播時間測定部と、上記表面エコー伝播時間測定部と上記裏面エコー伝播時間測定部の測定値により上記表面エコーから上記裏面エコーまでの伝播時間を測定する厚さ伝播時間測定部と、上記厚さ伝播時間測定部で測定した厚さ伝播時間をあらかじめ定めた厚さ伝播時間範囲信号と比較し、厚さ伝播時間範囲外のとき異常トリガ信号を発生させる厚さ比較部と、上記厚さ比較部からの異常トリガ信号によりデータ有効信号を発生する厚さデータ有効信号発生部と、上記送信部、上記受信部、上記表面ゲート発生部、上記裏面ゲート発生部、上記表面伝播時間測定部、上記裏面伝播時間測定部、上記厚さ伝播時間測定部、上記厚さ比較部、上記厚さデータ有効信号発生部にそれぞれトリガ信号を発生させる同期部と、上記厚さデータ有効信号の発生時のみの上記厚さ伝播時間測定部の出力を有効とし外部からの平均トリガ信号により平均する厚さデータ平均測定部とを備えたことを特徴とする超音波計測装置。
IPC (2件)：
G01B 17/02
, G01N 29/10 502
