特許

J-GLOBAL ID：200903078644786689

介在物検出方法および介在物検出装置

発明者： 山本 公 ,  松島 朋裕 ,  松浦 直樹 ,  安部 忠廣
出願人/特許権者： 川崎製鉄株式会社 ,  理学電機工業株式会社
代理人 (1件)： 小林 英一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-364542
公開番号（公開出願番号）：特開2001-183313
出願日： 1999年12月22日
公開日（公表日）： 2001年07月06日
要約：

【要約】【課題】 非破壊で鋼などの固体試料の内部に存在する介在物を検出することが可能な介在物検出方法および介在物検出装置の提供。【解決手段】 試料に、好ましくはγ線またはX線である放射線を照射し、該放射線の試料による弾性散乱放射線の強度および/または非弾性散乱放射線の強度を測定し、得られた強度に基づき試料内部に存在する介在物を検出する介在物検出方法、および介在物検出装置。

請求項（抜粋）：

試料に放射線を照射し、該放射線の試料による弾性散乱放射線の強度および/または非弾性散乱放射線の強度を測定し、得られた強度に基づき試料内部に存在する介在物を検出することを特徴とする介在物検出方法。

IPC (2件)：

G01N 23/20 ,  G01V 5/00

FI (2件)：

G01N 23/20 ,  G01V 5/00 A

Fターム (17件)：

2G001AA01 ,  2G001AA02 ,  2G001AA09 ,  2G001AA10 ,  2G001BA14 ,  2G001BA16 ,  2G001CA01 ,  2G001CA02 ,  2G001EA03 ,  2G001EA08 ,  2G001FA14 ,  2G001GA04 ,  2G001JA11 ,  2G001KA03 ,  2G001KA20 ,  2G001LA02 ,  2G001SA02