特許

J-GLOBAL ID：200903078645414483

ホウケイ酸ガラスの試験方法

発明者： 阿部 健一郎
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 松本 昂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-348560
公開番号（公開出願番号）：特開平6-201616
出願日： 1992年12月28日
公開日（公表日）： 1994年07月22日
要約：

【要約】【目的】 ホウケイ酸ガラス材料を安価且つ簡略に評価できるとともに、セラミック基板の焼成条件に適合するホウケイ酸ガラス材料を選定できる試験方法を提供し、良好な特性を有するセラミック基板を製造できるようにすることを目的とする。【構成】 セラミック基板の焼成における添加材料としてのホウケイ酸ガラス材料の品質の試験方法であって、ホウケイ酸ガラス材料に、結晶構造が明らかな結晶化抑制剤(例えば、アルミナ)を添加し、所定の条件で焼成した後に粉砕して、X線回折装置でX線強度と角度との関係を求め(図1)、該結晶化抑制剤のピーク(B)のX線強度とクリストバライトのピーク(A)のX線強度の比を結晶化度として、この結晶化度によりホウケイ酸ガラス材料を評価する。

請求項（抜粋）：

セラミック基板の焼成における添加材料としてのホウケイ酸ガラス材料の品質の試験方法であって、ホウケイ酸ガラス材料に、結晶構造が明らかな結晶化抑制剤を添加し、所定の条件で焼成した後に粉砕して、X線回折装置でX線強度と角度との関係を求め、該結晶化抑制剤とクリストバライトのそれぞれのピークのX線強度の比を結晶化度として、該ホウケイ酸ガラス材料を評価することを特徴とするホウケイ酸ガラスの試験方法。