特許

J-GLOBAL ID：200903078655735636

フィルタよりなるX線検査装置

発明者： リンデルス,ペトラス ヴィルヘルムス ヨハネス ,  ベーメル,マルセル レネ ,  セヴェレンス,ミヒャエル ヨハネス マリア ヨゼフ
出願人/特許権者： フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー
代理人 (1件)： 伊東 忠彦 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-502977
公開番号（公開出願番号）：特表平9-503066
出願日： 1995年06月15日
公開日（公表日）： 1997年03月25日
要約：

【要約】本発明のX線検査装置は、X線を用いた、例えば、検査されるべき患者のような対象物の照射によってX線検出器上に形成されたX線画像のダイナミックレンジを制限するフィルタよりなる。上記フィルタは、多数の電極と、X線吸収性材料を含み懸濁液中に検索した粒状物又は粒子とからなる。電圧が電極に印加されたとき、懸濁内のX線吸収性材料は、電気泳動の影響下で励起された電極へ移動する。所望のX線吸収プロフィールのある分布は、適当な電圧パターンの印加によって調整される。電極は、例えば、0.5×0.5mmの寸法を有し、高い空間分解能のX線吸収プロフィールが得られる。X線吸収プロフィールは、電極上の電圧パターンを変えることにより、例えば、1秒以内の短い時間間隔内に変更することができる。

請求項（抜粋）：

X線源とX線検出器の間に配置され、調整可能なX線吸収率を有するフィルタ部材からなるフィルタよりなるX線検査装置であって、 上記フィルタは調整回路により調整された電界による影響を受け得るX線吸収体を有することを特徴とするX線検査装置。

IPC (2件)：

G21K 3/00 ,  A61B 6/00 300

FI (2件)：

G21K 3/00 Z ,  A61B 6/00 300 J

引用特許：

審査官引用 (2件)

• X線透視装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-008933   出願人：株式会社日立メディコ
• 特表昭60-501492