特許
J-GLOBAL ID:200903078677804950

放射線計装システムおよびその健全性診断方法ならびに放射線計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 猪股 祥晃 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-391902
公開番号(公開出願番号):特開2002-196080
出願日: 2000年12月25日
公開日(公表日): 2002年07月10日
要約:
【要約】【課題】光電子増倍管の増倍率の低下が著しい高温下でも信頼性の高い放射線計装システムを提供する。【解決手段】シンチレーション型放射線検出器1と、放射線検出器1からの光信号を増倍する光電子増倍管2と、光電子増倍管2の出力を増幅する増幅器4と、を有する放射線計装システムにおいて、既知の単色エネルギ放射線を発生する線源6と、線源6からの放射線により、放射線検出器1と組み合わされた光電子増倍管2の波高分布を測定する線源波高分布測定手段と、線源波高分布測定手段で得られた波高分布に基いて光電子増倍管2の増倍率の経時的な低下を補償する手段と、を有する。
請求項(抜粋):
シンチレーション型放射線検出器と、この放射線検出器からの光信号を増倍する光電子増倍管と、この光電子増倍管の出力を増幅する増幅器と、を有する放射線計装システムにおいて、既知の単色エネルギ放射線を発生する線源と、この線源からの放射線により、前記放射線検出器と組み合わされた前記光電子増倍管の波高分布を測定する線源波高分布測定手段と、前記線源波高分布測定手段で得られた波高分布に基いて前記光電子増倍管の増倍率の経時的な低下を補償する補償手段と、を有すること、を特徴とする放射線計装システム。
IPC (2件):
G01T 1/20 ,  G01T 1/36
FI (2件):
G01T 1/20 J ,  G01T 1/36 A
Fターム (11件):
2G088EE06 ,  2G088FF15 ,  2G088GG18 ,  2G088KK01 ,  2G088KK05 ,  2G088KK22 ,  2G088KK24 ,  2G088LL15 ,  2G088LL21 ,  2G088LL27 ,  2G088LL28
引用特許:
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (13件)
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引用文献:
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